量子向け提供 - 薄膜オンインシュレータウェーハ

薄膜オンインシュレータ
水晶on-Si・LNOI・圧電薄膜

株式会社ナノシステムズJPでは、小ロットではほとんど誰も走らせないエンジニアド基板を作ります:570°C未満でシリコンに接合した水晶、ニオブ酸リチウムオンインシュレータ、そしてSi・サファイアキャリア上の圧電薄膜。フローは当サイトがすでに記載している能力の組み合わせです - フュージョン・プラズマ活性化接合、50µm級までの研削・CMP薄化、結晶を調達する基板プログラム。そしてページ全体を、その正体どおりの枠組みで提示します:3〜5枚の試作ロット、データ付き納品、「まだ存在しない基板」からデバイス構想が始まるチームのために。

詳細仕様がある場合はテクニカルRFQフォームへ →

水晶on-Si <570°CLNOIスタック キャリア上の圧電薄膜接合 + 薄化 + 研磨 3〜5枚試作ロット全ロットにデータ付き 基板調達込み需要実証済みレーン
<570°C
水晶on-Siプロセス上限 - α-β転移点の下
3〜5枚
試作ロット - 他社が断るロットサイズ
50µm
薄化能力クラス - CMP仕上げ0.5nm Ra未満
<5µm
精密キャリア・キャップウェーハのTTVクラス
規律
接合・薄化・研磨:デバイスのように作る基板

このページのすべてのスタックは、異なる結晶で演じられる同じ三幕劇であり、各幕はこのラインの記載済み能力です。既存のエンジニアド基板メーカーは数百枚単位で見積もりますが、研究チームに必要なのは4枚です。そのギャップでデバイスプログラムは死にます。当社の接合・研削CMP・基板プログラムが閉じるべく作られたのは、まさにそのギャップです。

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第一幕:接合

フュージョン・プラズマ活性化接合が、結晶の許す温度で機能結晶をキャリアに接合します。水晶on-Siなら573°C - α-β転移 - の下に留まること。当社の低温プラズマ活性化ルートはこれをマージン付きで守ります。層間酸化膜、そしてスタックが求める場合の金属・接着カップルは、同じボンディングサービスから来ます。

フュージョン & プラズマ活性化結晶が上限を決める水晶:<570°C厳守層間酸化膜対応

第二幕:薄化

接合された結晶はフル厚ウェーハとして始まり、薄膜として終わります:研削がバルクを、CMPがダメージを取り除きます。デバイスウェーハを50µm級へ薄化するフローが、ここでも同じ膜厚制御を担います。目標膜厚と均一性は、お客様のデバイス物理 - 共振器・導波路・トランスデューサ - に対してプログラムごとに設定します。

研削 + CMPシーケンス50µm級薄化フロー膜厚はデバイス物理に従う均一性を文書化

第三幕:仕上げ

0.5nm Ra未満のCMP仕上げが薄膜にデバイスレディな表面を与え、計測がループを閉じます:膜厚マップ・TTV・粗さを全ロットに添付。データのない試作基板は噂にすぎないからです。お客様のプログラムがウェーハだけでなくデバイスを求めるなら、下流のパターニング・メタライゼーション・ダイシングも同じラインで続きます。

CMP <0.5nm Ra仕上げ膜厚マップ + TTV + Ra全ロットにデータデバイスフローも継続可
フロースケッチ
接合・薄化・仕上げを図で

すべてのTFOIスタックの三幕を1枚で:フル厚の結晶から、測定済みの薄膜まで。

第1幕・接合Si キャリア水晶 / LN / 圧電水晶は <570°C第2幕・薄化Si キャリア研削 + CMP・50µm級第3幕・仕上げSi キャリアCMP仕上げ <0.5nm Ra膜厚マップ・TTV・Ra3〜5枚の試作ロット・全ロットにデータ付き
接合・薄化・仕上げ:TFOIの三幕
スタックメニュー
水晶・ニオブ酸リチウム・圧電on-キャリアファミリー

4つのスタックファミリー。すべて3〜5枚の試作ロットで見積り、結晶調達は当社基板プログラムが担うため、1つの注文で材料とプロセスをカバーします。膜厚・層間膜・キャリアはプログラムごとに設計します。

Qz/Si
水晶オンシリコン
全フロー <570°C

Siに接合・薄化した結晶水晶。このページの需要実証済みスタックです。水晶の物理をウェーハスケールプロセスと共に求める、共振器・タイミング・センシングデバイスのために。

LNOI
ニオブ酸リチウムオンインシュレータ
LN on 酸化膜 on Siキャリア

フォトニック・音響・電気光学のための接合薄化LN薄膜。現代の変調器を支えるスタックを、フォトニクススタートアップが実際に買えるロットサイズで。

圧電
キャリア上の圧電薄膜
接合結晶または成膜薄膜

Si・サファイア上の接合薄化圧電結晶。成膜のほうがデバイスに有利な場合は、薄膜プログラムからのAlN・PZT成膜で。

カスタム
お客様の結晶、当社のフロー
フィージビリティ先行見積

その他の結晶onキャリア構想はフィージビリティレビューから:接合化学・熱予算・薄化プランを、誰かがウェーハを投入する前に評価します。

プロセス仕様
完全なTFOIウェーハパラメータ
パラメータ仕様
スタックファミリー水晶on-Si・LNOI・圧電onキャリア(接合またはAlN / PZT成膜)・カスタムはフィージビリティ次第
キャリアSi標準 - サファイアほかはプログラムごと(基板プログラム経由)
接合フュージョン・プラズマ活性化 - 層間酸化膜 - 金属 / 接着カップルはスタック次第
熱予算結晶が決定 - 水晶on-Siは全工程570°C未満を維持
薄化研削 + CMP - 50µm級フロー - 膜厚目標はデバイス物理に従う
表面仕上げCMP 0.5nm Ra未満クラス
平坦度精密キャリアで<5µm TTVクラス
ウェーハサイズ4インチ(100mm)· 6インチ(150mm)標準 - その他はフィージビリティ次第
計測全ロットに膜厚マップ・TTV・粗さ - 接合検査
ロットサイズ3〜5枚試作ロット標準 - 同一レシピでリピートロット
下流工程リソグラフィ・メタライゼーション・エッチング・ダイシングを同じラインで提供可
応用分野
エンジニアド基板そのものがデバイス構想である場所
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水晶MEMS & タイミング

水晶の温度特性とQをシリコンプロセスフローの中で求める、共振器・発振器・タイミングMEMSのための水晶on-Si。当社の実証済み問い合わせ需要が立脚するスタックです。

共振器タイミングMEMS水晶のQをSiツールで
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LNOIフォトニクス

変調器・周波数変換・量子フォトニック回路のための薄膜ニオブ酸リチウム。このプラットフォームで発明を続けるチームのための試作基板ロット。

変調器非線形光学デバイス量子フォトニクス
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音響 & SAW/BAW研究

音響波デバイス研究のための圧電onキャリアスタック - フィルタ・センサー・音響電気実験。膜厚こそが設計変数となる領域です。

SAW / BAW研究膜厚 = 設計ノブ単結晶薄膜
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量子トランスダクション

マイクロ波-光変換・ハイブリッド量子実験のための、低損失キャリア上の圧電・電気光学薄膜。非常に難しい問題の、基板側の半分です。

トランスデューサハイブリッド量子低損失キャリア
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結晶薄膜上のセンサー

成膜多結晶層の限界を超えて、リソグラフィパターニング付き単結晶薄膜を活用する圧力・力・慣性センシング構想。

結晶薄膜センサー成膜薄膜を超えてリソグラフィ付き
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フィージビリティプログラム

ウェーハを投入する前に、お客様の結晶onキャリア構想をレビュー:接合ルート・熱予算・薄化プラン・正直なリスク。それから3〜5枚のロットで確かめます。

フィージビリティ先行次に3〜5枚正直なリスクノート
なぜ株式会社ナノシステムズJPか
当社のTFOI能力が異なる理由
01

誰も見積らないロットサイズ

このレーンでは3〜5枚が当社の標準提供です。デバイスプログラムを始動させる正確な数量であり、他所では断られる数量です。

02

記載済み能力の組み合わせ

接合・研削・CMP・基板は当サイトの確立されたページです。TFOIはその組み合わせであり、新しい約束ではありません。

03

熱予算を文字どおりに

水晶の573°C転移はマージン付きのハードシーリングとして扱い、すべてのスタックの予算を同じ流儀で設計します。

04

材料とプロセスを1つの注文で

基板プログラム経由の結晶調達により、RFQは1つ、責任あるフローも1つ。調達プロジェクトとプロセスプロジェクトの二重管理は不要です。

05

データが基板にする

膜厚マップ・TTV・粗さが全ロットに付属します。お客様のデバイスモデルは、希望ではなく測定値から始まります。

06

デバイスもここに残れる

リソグラフィ・メタライゼーション・ダイシングが同じラインで続き、専任プロジェクトマネージャーのもとで一貫します。

関連サービス:ボンディング
すべてのTFOIスタックの心臓部であるフュージョン・プラズマ活性化ウェーハ接合は、トライアルとペア一括処理を備えた独立サービスです。

ボンディング →

プロジェクトを開始しましょう。
24時間以内にご返信いたします。

スタック・目標膜厚・熱予算・数量をお知らせください。エンジニアが24時間以内にご返信いたします。

スムーズな審査のため、以下をご記入ください:
基板材料・サイズ  ·  対象プロセス  ·  数量  ·  スケジュール  ·  設計ファイル(初回は不要)
詳細を共有する前にNDA締結 →

sales@nanosystemsjp.co.jp · +81-3-5288-5569 · NDA対応可

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テクニカルAI - ナノシステムズJP
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サービス & 産業分野
⚙️ 技術能力 概要
基板
🔷 基板・ウェーハSi, SiC, GaN, ガラス, サファイア 🔬 溶融石英ウェーハ石英 · ホウケイ酸ガラス · 低CTE 🟣 PIフィルム・SUSセンサーロールツーロール · センサーパターニング
フロントエンド
🎭 マスク製造GDSからクロームマスク, DRC 📷 フォトリソグラフィEビーム 20nm〜500×600mm 🔬 ナノインプリントUV・熱インプリント 🫧 薄膜成膜PVD, CVD, ALD, MBE 🖥 TFT・バックプレーンIGZO · ガラス基板 · ディスプレイ ⬆️ リフトオフ金属パターン · シャドウマスク ⚡ 電気めっきCu TSV充填, DPC, LIGA 🌊 エッチングICP-RIE, DRIE >50:1 🔥 アニールN₂ / H₂ / 真空 / RTA ⚛️ Ion ImplantationB / P / As / Al / N implant 🔄 CMP & GrindingCu CMP, 50 µm thinning 💎 DicingBlade, stealth laser 🧪 Wafer CleaningRCA, plasma, megasonic
アドバンスドパッケージング
🔗 Wafer BondingHybrid, eutectic, fusion 📌 TSV FabricationHigh AR, void-free Cu fill 👁️ TSV RevealBackgrind → etch → CMP 🪟 TGV FabricationThrough-glass via 🔀 RDL FabricationBCB / PBO / PI + damascene 📦 Packaging & AssemblyWire bond, flip-chip 📚 3D / 2.5D PackagingTSV + RDL + UBM + C4 🥇 AuSn BumpPVD lift-off, fluxless 🥈 Indium BumpEvap lift-off · cryo/quantum 🧱 UBM DepositionTi/Pt/Au · adhesion-barrier-Au 🪙 Gold BumpEvap & plated · Au-Au TC 🔥 AuGe / AuSi356/363°C eutectic die attach 🛰️ High-Pb Bumps95Pb5Sn · hi-rel C4 ⚗️ SLID / TLPCu/Sn · Au/In · Ag/In 🔒 Al-Ge Sealing424°C · CMOS-friendly MEMS ⚡ Ohmic ContactsGaAs · GaN · RTA + TLM 🧊 Cryo / UHV MetalAuSn · Ti/Pd/Au · rings 🪟 Optical AccessWindows · meshes · holes 🫙 Vapor CellsDRIE + bond · unfilled 💠 TFOI WafersQuartz-on-Si · LNOI 🧬 Biochip & MicrofluidicsGlass 500×600 mm, NIL 🔆 SiPho PackagingTSV · RDL · UBM · C4 for PIC
産業分野
🤖 AI & HPC PackagingCoWoS-style, 2.5D / 3D 💡 Silicon PhotonicsSOI · AuSn · TSV interposer 🚗 AutomotiveMEMS sensors, SiC power 🧬 Life SciencesLab-on-chip, biosensors 🔭 All Industries → Request a Quote →